|
 |
|
| |
| X射线衍射计系统 |
英文 |
中文 |
| XRD 3003 压力分析仪 |
|
|
应用报告:
表面以下的X射线观测 |
|
|
| XRD 3003 PTS |
|
|
| 衍射计系统 XRD 3003 TT |
|
|
| 单晶 Laue 取向 XRD 3003 ORL |
|
|
| 双端晶圆误切测量 |
|
|
| 单晶硅锭定向系统 |
|
|
| |
|
|
| Rayflex Software |
英文 |
中文 |
| 测量：SCANX |
|
|
| 测量：CONTROLX |
|
|
| 测量：准备 |
|
|
| 测量：HWSETUP |
|
|
| 测量：任务解释 |
|
|
| 测量：工作向导 |
|
|
| 测量选项：PSD |
|
|
| 测量选项：SSD / LUX |
|
|
| 测量选项：温度 |
|
|
| 分析：数据简化 |
|
|
| 分析：搜索 / 匹配 |
|
|
| 分析：索引 / 精炼 |
|
|
| AutoQuan "Flyer" |
|
|
| BGMN® 全自动 Rietveld 程序 |
|
|
| PARSIZE: 粒子尺寸及微应变测定 |
|
|
| 测量选项：压力 |
|
|
| 分析：压力 |
|
|
| 测量选项：质地 |
|
|
| 分析：质地 |
|
|
| 质地: LABOTEX |
|
|
| 测量选项：倒晶格空间制图 |
|
|
| 分析：倒晶格空间制图 |
|
|
| 分析：反射率曲线 |
|
|
| CRYSOM: 单晶定位及数据采集 |
|
|
| |
|
|
| 系统配件 |
英文 |
中文 |
| 质地及压力附件 TSA-3 |
|
|
| 安装准直器到射线管头壳用的支架 |
|
|
| FOX –X 射线纤维光学 |
|
|
| 二级单色仪 |
|
|
| 衰减滤波器更改项 |
|
|
| |
|
|
| 基本组件 |
英文 |
中文 |
| 高稳定性 X 射线设备 ISO-DEBYEFLEX 3003 |
|
|
| X 射线管头机壳 V4 |
|
|
| 水冷却 机组 WLK 201 |
|
|
| 水冷却机组 WLK 301 |
|
|
| 冷却机组 WW 3001 |
|
|
| 水冷却泵 WL 3001 |
|
|
|
|
|
|
