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相控阵探头可以比作一个单晶探头，而这个单晶探头又分成了多个更小的激活单元。与相控阵设备连接在一起时，每次脉冲重复时声束的相位角与焦点都可以改变。

不管要检测的材料如何，相控阵探头和仪器都能定制以满足用户特殊应用的需要。GE将研究应用相控阵技术的精确解决方案，使用户能够在很大的角度范围内和焦距范围内控制超声的相位角和焦距，从而提高生产力和检测的可靠性。

其他信息
产品资料 - 英文（123KB）
相控XS UT检测仪产品概览		  
 
 
相控阵探头的优势

• 节省时间 – 减少了改变检测参数设置所需时间和扫描时间
• 简化解决方案– 不再需要使用固定角度和焦点的探头的多重检测
• 增强了检测能力 –通过电子焦距提高了检测灵敏度和信噪比
• 增大了灵活性 – 能够检测一个固定探头难以检测到的区域
• 使用简单 – 减少了机械和人工控制
 
 
相控阵探头的类别
 
  线性
晶片单元单排排列，通常通过切割一个更大的长方形压电陶瓷得到。波束产生在单一平面内。
  线性弯曲
晶片单元弯曲排列以产生所需波束形状以符合被测试部件的几何形状。波束产生在单一平面内。
  2D矩阵
晶片单元以格子形排列，或被弯曲。波束产生在三维立体内。